ГОСТ 8.171-75 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия

ГОСТ 8.171-75 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия

ГОСТ 8.171-75 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия   Обозначение стандарта: ГОСТ 8.171-75   Статус стандарта: действующий   Название рус.: Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия   Название англ.: State system of ensuring the uniformity of measurements. Actual measures of the surface density for radiation thickness gauges. General specifications       Дата введения в действие: 01.01.1977   Область и условия применения: Настоящий стандарт распространяется на меры поверхностной плотности, предназначенные для воспроизведения единицы поверхностной плотности листовых и ленточных материалов в диапазоне от 2 до 30000 г/м кв. на площади от 5 до 600 см кв   Список изменений: №1 от --1981-03-01 (рег. --1980-10-31) «Срок действия продлен»
№2 от --1987-07-01 (рег. --1986-12-29) «Срок действия продлен»
№3 от --1992-01-01 (рег. --1991-06-27) «Срок действия продлен»

Вы можете посмотреть весь документ в PDF на нашем сайте или скачать его в Word doc

Посмотреть весь документ в PDF

      Система тестирования для предприятий