ПРИЛОЖЕНИЕ Г
(справочное)
Для промышленных высокочастотных устройств, которые расположены на уровне земли или близко к ней, затухание поля с увеличением расстояния от источника ИРП при высоте от 1 до 4 м относительно земли зависит от характеристик почвы и рельефа местности.
Несмотря на то, что влияние характеристик почвы и наличие препятствий на ней на реальное затухание ИРП возрастает с частотой, может быть принят усредненный коэффициент затухания для полосы частот от 30 до 300 МГц.
По мере того как увеличиваются неоднородность почвы и отражения, ИРП будут ослабевать из-за затенения, поглощения (включая затухание, вызываемое зданиями и растительностью), рассеяния и дефокусировки огибающих волн. При этом затухание может быть определено только на статистической основе. На расстояниях от источника ИРП, превышающих 30 м, уровень напряженности поля на определенной высоте изменяется по закону 
, где 
- расстояние от источника в метрах; коэффициент 
меняется от 1,3 (для открытых сельских зон) до 2,8 (для городских зон с плотной застройкой). На основе результатов различных измерений для всех типов местности для приблизительных оценок можно использовать среднее значение =2,2. Существуют значительные отклонения измеренных значений напряженностей полей от значений, прогнозируемых на основе применения указанного выше выражения. При этом среднее квадратическое отклонение составляет примерно 10 дБ при приблизительно логарифмически нормальном распределении. Прогнозировать поляризацию полей не представляется возможным. Данные результаты согласуются с результатами измерений, выполненных в ряде стран.
Экранирующее влияние зданий на излучения изменяется в широких пределах в зависимости от материала зданий, толщины стен и площади оконного пространства. В общем случае предполагается, что затухание в зданиях не может значительно превышать величины 10 дБ.