Испытание на устойчивость к НИП представляет собой испытание ТС при воздействии пачек импульсов наносекундной длительности, подаваемых на порты электропитания, заземления, сигналов и управления. Существенными особенностями данных испытаний являются высокая амплитуда, малое время нарастания, высокая частота повторения и низкая энергия воздействующих импульсов.
Испытания должны продемонстрировать устойчивость ТС к НИП, возникающим в результате коммутационных процессов (прерываний индуктивных нагрузок, размыканий контактов реле и т.п.).