ГОСТ 30804.4.4-2013 (IEC 61000-4-4:2004) Совместимость технических средств электромагнитная. Устойчивость к наносекундным импульсным помехам. Требования и методы испытаний (с Поправкой)

ГОСТ 30804.4.4-2013 (IEC 61000-4-4:2004) Совместимость технических средств электромагнитная. Устойчивость к наносекундным импульсным помехам. Требования и методы испытаний (с Поправкой)

Приложение А (справочное). Информация о наносекундных импульсных помехах

Приложение А
(справочное)

А.1 Введение

Пачки импульсов наносекундной длительности возникают при коммутации индуктивных нагрузок. Эти переходные процессы, обычно относящиеся к НИП, могут характеризоваться следующими параметрами:

длительностью пачки импульсов, которая определена энергией в индукторе до начала коммутации;

частотой повторения отдельных переходных процессов;

изменяющейся амплитудой переходных процессов, составляющих пачку импульсов, которая определяется механическими и электрическими характеристиками переключающего устройства (скоростью операции разрывания цепи, способностью контакта в открытом состоянии выдерживать напряжение).

Обычно параметры НИП не определяются единственным образом характеристиками коммутирующего контакта или коммутируемой нагрузки.

А.2 Амплитуда выбросов

Напряжение выбросов, измеряемое на проводниках линии, может иметь то же значение, как в точке гальванического соединения этой линии с переключающим контактом. Для линий электропитания и некоторых управляющих цепей это может иметь место вблизи переключающего контакта (на расстоянии около 1 м).

При передаче помехи через индуктивную или емкостную связь амплитуда помехи будет представлять собой часть напряжения помехи, измеренного на контактах.

А.3 Время нарастания

Необходимо отметить, что с увеличением расстояния от источника форма выброса меняется из-за потерь при распространении, дисперсии и отражений, вызванных подключенными нагрузками. Время нарастания 5 нс является компромиссным для ИГ, учитывая эффект затухания высокочастотных компонентов при распространении выброса.

Более короткое время нарастания, например 1 нс, приводит к испытаниям меньшей жесткости, и целесообразность его применения в основном относится к оборудованию с короткими соединениями, применяемому поблизости от источника НИП.

Примечание - Реальное время нарастания в источнике НИП для напряжения от 500 В до 4 кВ и выше очень близко ко времени нарастания тока электростатического разряда (воздушного), так как механизм разряда является одинаковым.

А.4 Длительность импульса

Реальная длительность импульса значительно отличается от установленной в настоящем стандарте.

А.5 Частота повторения импульсов

Частота повторения импульсов зависит от многих параметров, например:

- постоянной времени цепи заряда (сопротивления, индуктивности и распределенной емкости коммутируемой индуктивной нагрузки);

- постоянной времени коммутирующей цепи, включая полное сопротивление линии, соединяющей нагрузку с переключающим устройством;

- скорости разрыва цепи;

- напряжения, выдерживаемого переключающим устройством.

Отсюда следует, что частота повторения импульсов является переменной величиной, причем обычными являются ее изменения в пределах десяти раз или более.

Примечание - На практике значение частоты повторения импульсов 100 кГц может рассматриваться как компромиссное решение, обеспечивающее проведение испытаний с учетом наиболее важных параметров НИП.

А.6 Число импульсов в пачке и длительность пачки

Эти параметры зависят от энергии, накопленной коммутируемой индуктивной нагрузкой, а также от напряжения, выдерживаемого коммутирующим устройством.

Число импульсов в пачке непосредственно зависит от частоты повторения импульсов и длительности пачек. Длительность пачки по результатам измерений близка к 2 мс, за исключением применения герметизированного ртутного контакта, который используется не так часто, как другие типы контактов.

Примечание - Для испытаний при частоте повторения импульсов 100 кГц выбрана длительность пачки 0,75 мс. Соответственно 75 - число импульсов в пачке.

      Магазин учебных материалов