ГОСТ 20426-82 Контроль неразрушающий. Методы дефектоскопии радиационные. Область применения

ГОСТ 20426-82 Контроль неразрушающий. Методы дефектоскопии радиационные. Область применения

ПРИЛОЖЕНИЕ 1 (справочное). ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЭНЕРГИИ ИЗЛУЧЕНИЯ ДЛЯ ПРОСВЕЧИВАНИЯ МАТЕРИАЛОВ, НЕ ПРИВЕДЕННЫХ В ТАБЛ. 2-7

ПРИЛОЖЕНИЕ 1
Справочное

1. Для материала, не приведенного в табл. 2-7 настоящего стандарта, значение толщины, соответствующее приведенному в этих таблицах значению напряжения на рентгеновской трубке или энергии ускоренных электронов, определяют по формуле

ГОСТ 20426-82 Контроль неразрушающий. Методы дефектоскопии радиационные. Область применения(1)

где Число - эффективная энергия излучения;
ГОСТ 20426-82 Контроль неразрушающий. Методы дефектоскопии радиационные. Область применения - линейный коэффициент ослабления излучения (см. приложение 2);

ГОСТ 20426-82 Контроль неразрушающий. Методы дефектоскопии радиационные. Область применения - линейный коэффициент ослабления излучения;

Число - толщина просвечиваемого материала, не приведенного в табл. 2-7 настоящего стандарта;

Число - контролируемая толщина просвечиваемого материала, приведенного в табл. 2-7 настоящего стандарта.

Эффективная энергия Число для излучения рентгеновских аппаратов напряжением до 1000 кВ вдали от скачков фотоэлектрического поглощения в килоэлектроновольтах численно равна 2/3 максимального напряжения на рентгеновской трубке в киловольтах.

Эффективная энергия для тормозного излучения бетатронов равна:

ГОСТ 20426-82 Контроль неразрушающий. Методы дефектоскопии радиационные. Область применения при ГОСТ 20426-82 Контроль неразрушающий. Методы дефектоскопии радиационные. Область применения MэB, (2)


ГОСТ 20426-82 Контроль неразрушающий. Методы дефектоскопии радиационные. Область применения при ГОСТ 20426-82 Контроль неразрушающий. Методы дефектоскопии радиационные. Область применения MэB, (3)

где Число - энергия электронов, ускоренных в бетатронах.

2. Толщину материала, не приведенного в табл. 3 и 7 настоящего стандарта и подвергаемого просвечиванию излучением радиоактивных источников, следует определять по формуле

ГОСТ 20426-82 Контроль неразрушающий. Методы дефектоскопии радиационные. Область применения(4)

где Число и Число - толщина и плотность материала, не приведенного в табл. 3 и 7 соответственно;

Число и Число - толщина и плотность материала, приведенного в табл. 3 и 7, соответственно.

3. В формулах (1) и (4) в качестве Число следует использовать толщину такого материала, выбранного по табл. 2-7, средний атомный номер которого является ближайшим к среднему атомному номеру материала объекта контроля или, в случае сложных веществ, к атомному номеру химического элемента, массовая доля которого является основной.

4. Линейный коэффициент ослабления для сложных веществ следует определять по формуле

ГОСТ 20426-82 Контроль неразрушающий. Методы дефектоскопии радиационные. Область применения(5)


где ГОСТ 20426-82 Контроль неразрушающий. Методы дефектоскопии радиационные. Область применения - линейные коэффициенты ослабления излучения 1, 2-м,..., Число-м элементом, входящим в состав сложного вещества;

ГОСТ 20426-82 Контроль неразрушающий. Методы дефектоскопии радиационные. Область применения - плотность 1, 2-го, ... ,Число-го элемента, входящего в состав сложного вещества;
ГОСТ 20426-82 Контроль неразрушающий. Методы дефектоскопии радиационные. Область применения -относительная массовая доля 1, 2-го,..., Число-го элемента, входящего в состав сложного вещества;

Число - плотность сложного вещества.

      Магазин учебных материалов