ГОСТ 9.302-88 (ИСО 1463-82, ИСО 2064-80, ИСО 2106-82) Единая система защиты от коррозии и старения (ЕСЗКС). Покрытия металлические и неметаллические неорганические. Методы контроля (с Поправкой)

ГОСТ 9.302-88 (ИСО 1463-82, ИСО 2064-80, ИСО 2106-82) Единая система защиты от коррозии и старения (ЕСЗКС). Покрытия металлические и неметаллические неорганические. Методы контроля (с Поправкой)

ПРИЛОЖЕНИЕ 3 (рекомендуемое). ПРИБОРЫ, ПРИМЕНЯЕМЫЕ ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЙ

ПРИЛОЖЕНИЕ 3
Рекомендуемое


Таблица 17

Наименование и тип прибора

Техническая характеристика

Область применения

Магнитный толщиномер МТ-41НЦ (магнитоиндукционный)

Диапазон измерений:

Измерение немагнитных покрытий на ферромагнитных

I 4-22 мкм;

металлах

II 20-220 мкм;

III 0,2-2,0 мм

Погрешность измерений:


I±0,05 Число+1 мкм;

II ±0,05 Число+2 мкм;

III±0,05 Число+10 мкм,

где Число - толщина покрытия, мкм

Шероховатость поверхности:

I - не более Число 1,25;

II, III - не более Число 20

Индикация цифровая

Магнитный толщиномер МТА-2М (магнитоотрывной)

Диапазон измерений от 0 до 300 мкм

Измерение немагнитных покрытий на ферромагнитных металлах

Погрешность измерений при толщине покрытия:


до 30 мкм - ± 1,5 мкм;

свыше 30 мкм - ±5%

Шероховатость поверхности при толщине покрытия:

до 30 мкм - не более Число 1,25;

свыше 30 мкм - не более
Число 20


Индикация стрелочная

Магнитный толщиномер МТА-3 (магнитоотрывной)

Диапазон измерений
от 1 до 20 мкм

Измерение никелевых и кобальтовых покрытий на

Погрешность измерений
±1,5 мкм

немагнитных металлах

Шероховатость поверхности не более Число 1,25

Индикация стрелочная

Вихретоковый толщиномер ВТ-10НЦ

Диапазон измерений:

Измерение нетокопроводящих покрытий на

I 0-200 мкм;

неферромагнитных металлах

II 0-2,0 мкм

Погрешность измерений ±(0,04 Число +1) мкм, где Число - верхний предел измерений данного поддиапазона

Вихретоковый толщиномер
ВТ-17Н

Диапазон измерений:

Измерение кадмиевых, цинковых и никелевых

±(0,05 Число+1) мкм, где Число- толщина покрытия

покрытий на ферромагнитных металлах

Шероховатость поверхности не более Число 40

Индикация стрелочная

Шероховатость поверхности:


I - не более Число 1,25

II - не более Число 20



Индикация цифровая

Измеритель толщины гальванических покрытий ИТГП-1А (вихретоковый)

Диапазон измерений от 0 до 30 мкм

Измерение кадмиевых, цинковых, никелевых покрытий на ферромагнитных

Погрешность измерений ±(0,05 Число +1) мкм, где Число- толщина покрытия

металлах

Шероховатость поверхности не более Число 80

Индикация стрелочная

Измеритель толщины гальванических покрытий ИТГП-1Б (вихретоковый)

Диапазон измерений от 0 до 50 мкм

Погрешность измерений ±(0,05 Число +1) мкм, где Число - толщина покрытия

Шероховатость поверхности не более Число 80

Индикация стрелочная

Измерение медных и серебряных покрытий на

Измеритель толщины гальванических покрытий ИТГП-1М (вихретоковый)

Диапазон измерений кадмиевых, цинковых, никелевых, серебряных покрытий от 0 до 30 мкм, медных от 0 до 50 мкм

ферромагнитных металлах

Погрешность измерений ±(0,05 Число +1) мкм, где Число - толщина покрытия

Шероховатость поверхности не более Число 80

Индикация стрелочная

Измеритель толщины гальванических покрытий ИТГП-21 (вихретоковый)

Диапазон измерений от 3 до 30 мкм

Измерение серебряных покрытий на медных сплавах

Погрешность измерений ±(0,l Число +1) мкм, где Число - толщина измеряемого покрытия

Шероховатость поверхности не более Число 40

Индикация стрелочная

Радиоизотопный толщиномер выборочного контроля РТВК-2К

Погрешность измерения ±10%

Измерение металлических и неметаллических покрытий на

(обратного излучения бета-рассеяния)

Источник бета-излучения: прометий-147 (БИП-М),

металлических и неметалличеких материалах

таллий-204 (БИТ-М),

стронций-90+иттрий-90

Индикация цифровая

Кулонометрический толщиномер Лимеда ДЕМ

Диапазон измерений от 0 до 50 мкм

Измерение металлических, в том числе многослойных покрытий на металлических и

Погрешность измерения ±7%

неметаллических материалах

Индикация цифровая

Микроскоп металлографический агрегатный МЕТАМ-Р1

Увеличение 50-507Число

Изучение и фотографирование микроструктуры металлов в

Комплект для запрессовки шлифа

отраженном и поляризованном свете;

Микроскоп металлографический рабочий ММР-4

Увеличение 50-1600Число

измерение толщины покрытий


Примечания:

1. Допускается применять приборы для контроля других видов покрытий при обеспечении требуемой точности измерений.

2. Допускается использовать различные приспособления и технологическую оснастку для повышения производительности контроля.

      Система тестирования для предприятий