ПРИЛОЖЕНИЕ 3
Рекомендуемое
Таблица 17
Наименование и тип прибора |
Техническая характеристика |
Область применения |
Магнитный толщиномер МТ-41НЦ (магнитоиндукционный) |
Диапазон измерений: |
Измерение немагнитных покрытий на ферромагнитных |
I 4-22 мкм; |
металлах |
|
II 20-220 мкм; |
||
III 0,2-2,0 мм |
||
Погрешность измерений: |
||
I±0,05 +1 мкм; |
||
II ±0,05 +2 мкм; |
||
III±0,05 +10 мкм, |
||
где - толщина покрытия, мкм |
||
Шероховатость поверхности: |
||
I - не более 1,25; |
||
II, III - не более 20 |
||
Индикация цифровая |
||
Магнитный толщиномер МТА-2М (магнитоотрывной) |
Диапазон измерений от 0 до 300 мкм |
Измерение немагнитных покрытий на ферромагнитных металлах |
Погрешность измерений при толщине покрытия: |
|
|
до 30 мкм - ± 1,5 мкм; |
||
свыше 30 мкм - ±5% |
||
Шероховатость поверхности при толщине покрытия: |
||
до 30 мкм - не более 1,25; |
||
свыше 30 мкм - не более |
||
Индикация стрелочная |
||
Магнитный толщиномер МТА-3 (магнитоотрывной) |
Диапазон измерений |
Измерение никелевых и кобальтовых покрытий на |
Погрешность измерений |
немагнитных металлах |
|
Шероховатость поверхности не более 1,25 |
||
Индикация стрелочная |
||
Вихретоковый толщиномер ВТ-10НЦ |
Диапазон измерений: |
Измерение нетокопроводящих покрытий на |
I 0-200 мкм; |
неферромагнитных металлах |
|
II 0-2,0 мкм |
||
Погрешность измерений ±(0,04 +1) мкм, где - верхний предел измерений данного поддиапазона |
||
Вихретоковый толщиномер |
Диапазон измерений: |
Измерение кадмиевых, цинковых и никелевых |
±(0,05 +1) мкм, где - толщина покрытия |
покрытий на ферромагнитных металлах |
|
Шероховатость поверхности не более 40 |
||
Индикация стрелочная |
||
Шероховатость поверхности: |
||
I - не более 1,25 |
||
II - не более 20 |
||
Индикация цифровая |
||
Измеритель толщины гальванических покрытий ИТГП-1А (вихретоковый) |
Диапазон измерений от 0 до 30 мкм |
Измерение кадмиевых, цинковых, никелевых покрытий на ферромагнитных |
Погрешность измерений ±(0,05 +1) мкм, где - толщина покрытия |
металлах |
|
Шероховатость поверхности не более 80 |
||
Индикация стрелочная |
||
Измеритель толщины гальванических покрытий ИТГП-1Б (вихретоковый) |
Диапазон измерений от 0 до 50 мкм |
|
Погрешность измерений ±(0,05 +1) мкм, где - толщина покрытия |
||
Шероховатость поверхности не более 80 |
||
Индикация стрелочная |
Измерение медных и серебряных покрытий на |
|
Измеритель толщины гальванических покрытий ИТГП-1М (вихретоковый) |
Диапазон измерений кадмиевых, цинковых, никелевых, серебряных покрытий от 0 до 30 мкм, медных от 0 до 50 мкм |
ферромагнитных металлах |
Погрешность измерений ±(0,05 +1) мкм, где - толщина покрытия |
||
Шероховатость поверхности не более 80 |
||
Индикация стрелочная |
||
Измеритель толщины гальванических покрытий ИТГП-21 (вихретоковый) |
Диапазон измерений от 3 до 30 мкм |
Измерение серебряных покрытий на медных сплавах |
Погрешность измерений ±(0,l +1) мкм, где - толщина измеряемого покрытия |
||
Шероховатость поверхности не более 40 |
||
Индикация стрелочная |
||
Радиоизотопный толщиномер выборочного контроля РТВК-2К |
Погрешность измерения ±10% |
Измерение металлических и неметаллических покрытий на |
(обратного излучения бета-рассеяния) |
Источник бета-излучения: прометий-147 (БИП-М), |
металлических и неметалличеких материалах |
таллий-204 (БИТ-М), |
||
стронций-90+иттрий-90 |
||
Индикация цифровая |
||
Кулонометрический толщиномер Лимеда ДЕМ |
Диапазон измерений от 0 до 50 мкм |
Измерение металлических, в том числе многослойных покрытий на металлических и |
Погрешность измерения ±7% |
неметаллических материалах |
|
Индикация цифровая |
||
Микроскоп металлографический агрегатный МЕТАМ-Р1 |
Увеличение 50-507 |
Изучение и фотографирование микроструктуры металлов в |
Комплект для запрессовки шлифа |
отраженном и поляризованном свете; |
|
Микроскоп металлографический рабочий ММР-4 |
Увеличение 50-1600 |
измерение толщины покрытий |
Примечания:
1. Допускается применять приборы для контроля других видов покрытий при обеспечении требуемой точности измерений.
2. Допускается использовать различные приспособления и технологическую оснастку для повышения производительности контроля.